2007年10月16日 星期二

OPEN/SHORT測試原理

對於IC測試來說,Open/Short測試都是必須的,而且在所有測試Item來說,都是最先的,所以要開始學習測試原理,就要從Open/Short 開始學起。

1O/S的意義:

O/S測試是驗證是否有其他的pin與所測的pin有短路現象,或者所測pin是否開路。O/S測試可以節省測試時間,因為如果一顆IC如果已經O/S,就沒有意義在進行下面的功能或參數測試了。

2測試的方法:

大家都應該知道,其實O/S的測試原理是每一個pin為了保護IC,對GND和VDD都有一個保護二極體,所以測試出來的電壓值就是保護二極體的管壓降。

3測試的原理:

3-1測試對VDD二極體壓降,就是給所測pin加100uA電流,其他的pin全部給零電位,或者直接接到GND pin,二極體導通後,測試該pin的電壓,通常典型值0.65V, 範圍是0.2-1.5V。

3-2測試對GND二極體壓降,就是給所測pin加-100uA電流,其他的pin全部給零電位,或者直接接到GND pin,二極體導通後,測試該pin的 電壓,通常典型值-0.65V, 範圍是-0.2V-(-1.5V)。

4測試出現的問題:

如果測到的值小於0.2或大於-0.2,則為short,如果測到的值小於-1.5或大於1.5則為open,當然有的時候測到的值非常的臨 界,則有可能是電壓電流源連接到所測試的pin接觸電阻比較大,電流留過去的時候造成電壓較大,所以接觸問題,是測試O/S最大的問題。

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